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出版年度 89年6月
卷期 第8卷第2期
篇名 以氣相層析質譜法偵測半導體廠作業環境空氣中有害物
作者 葉銘鵬、吳榮泰、余榮彬
網址 http://www.iosh.gov.tw/Upload2/BookMP/200808/shp8_2_3.PDF