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| column | value |
|---|---|
| tf_hs_e_reason | 本案貨品依型錄說明，為量測晶圓之電阻值儀器，歸列商品分類號列9030.82.00.00-7。 |
| TF_STANDARD_HS | 90308200007 |
| tno | 90308200 |
| sc | 00 |
| cd | 7 |
| TF_ENGLISH_COMMODITY | JANDEL MULTI HEIGHT PROBE FOUR POINT PROBE STAND AND RESISTIVITY TEST UNIT，矽晶圓電阻值測量系統 型號:MHP & RTU |
| TF_FACTOR_MATERIAL | NULL |
| TF_FUNCTION | 本系統是用來作為量測矽晶圓的電阻值，確定製程上所用的矽晶圓之電阻值符合我們的需要與要求/測量晶片電阻值 |
| TF_ISSUE_DOCU_NO | 91BA0089 |
| TF_ISSUE_DATE | 20020322 |
| cnote | 供計量或檢查半導體晶圓或裝置之儀器及器具 |
| enote | Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices |