column value
系統編號 102THMU0396007
作者 Vivek Ningaraju
論文名稱 Effects of Drift-Region design on the Reliability of 800V LDMOS
指導老師 許健
學位名稱 碩士
學校名稱 亞洲大學
系所名稱 資訊工程學系
畢業學年度 102
博碩士論文網址 http://handle.ncl.edu.tw/11296/ndltd/76415860262137253276